标准详情
- 标准名称：半导体探测器X射线能谱仪通则
- 标准号：GB/T 20726-2006
- 发布日期：2006-12-25
- 实施日期：2007-08-01
- 中国标准号：N53
- 国际标准号：71.040.99
- 代替标准：被GB/T 20726-2015代替
- 技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
- 主管部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准
GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
GB/T 20726-2006
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标准GB/T 20726-2006标准状态
- 发布于：2006-12-25
- 实施于：2007-08-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的量值。本标准仅适用于国态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）联用的此类EDS的最低要求，至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。
起草单位
中国科学院地质与地球物理研究所、
起草人
曾荣树、 徐文东、 马玉光、范逛、
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