GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
GB/T 17723-1999
国家标准 推荐性
收藏
报错
标准GB/T 17723-1999标准状态
- 发布于:1999-04-11
- 实施于:1999-12-01
- 废止
内容简介
本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪(包括装有X射线能谱仪的电子探针仪)对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。 本标准适用于表面镀金及金合金,其镀层厚度为0.2μm以上,3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。
起草单位
北京有色金属研究总院
起草人
相近标准
20060579-T-469 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
GB/T 17363-1998 黄金制品的电子探针定量测定方法
GB/T 17364-1998 黄金制品中金含量的无损定量分析方法
20075691-T-469 X射线光电子能谱仪检定方法
GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法
20069201-T-469 黄金制品金含量无损测定方法 第2部分:综合测定方法
GB/T 17363.2-2009 黄金制品金含量无损测定方法 第2部分:综合测定方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。