GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content
GB/T 17473.1-1998
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标准GB/T 17473.1-1998标准状态
- 发布于：1998-08-19
- 实施于：1999-03-01
- 废止
内容简介
本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。
国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国有色金属工业协会。
起草单位
昆明贵金属研究所、
起草人
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