GB/T 11250.2-1989 复合金属覆层厚度的测定 X荧光法
Method for measuring thickness of coated layer on composite metal-The X-ray fluorescent method
GB/T 11250.2-1989
国家标准 推荐性
收藏
报错
标准GB/T 11250.2-1989标准状态
- 发布于：1989-03-31
- 实施于：1990-01-01
- 废止
内容简介
本标准规定了X荧光法测定复合材料覆层厚度的方法、使用的仪器、测量步骤、标准样品的制作以及测量曲线的绘制。 本标准适用于X荧光法对复合带材覆层厚度的测定。方法精密度为±5％。
起草单位
机电部745厂
起草人
相近标准
贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
20161679-T-610 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
金属材料 显微疏松的测定 荧光法
GB/T 37787-2019 金属材料 显微疏松的测定 荧光法
20151738-T-605 金属材料 显微疏松的测定 荧光法
航天功能镀覆层 颗粒增强金属基复合材料焊接镀覆层
20220141-T-469 航天功能镀覆层 颗粒增强金属基复合材料焊接镀覆层
EJ/T 20196-2018 放射性金属废物 铀含量测定 液体荧光法
DB32/T 1720-2011 铝塑复合板 铝板厚度的测定
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。