标准详情
- 标准名称：CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
- 标准号：GB/T 41033-2021
- 发布日期：2021-12-31
- 实施日期：2022-07-01
- 中国标准号：V29
- 国际标准号：49.035
- 代替标准：
- 技术归口：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
- 主管部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：航空器和航天器工程航空航天制造用零部件
GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
GB/T 41033-2021
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标准GB/T 41033-2021标准状态
- 发布于：2021-12-31
- 实施于：2022-07-01
- 废止
内容简介
国家标准《CMOS集成电路抗辐射加固设计要求》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计。
起草单位
中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所、
起草人
刘智、 葛梅、 岳红菊、 于洪波、 耿增建、 胡巧玉、 谢成民、王斌、姚思远、李海松、
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