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SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法

中标分类号（ICS）: L50国标分类号（CCS）: 31.260

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